OTDR中的“盲区”是否影响光纤测量？

我们知道光时域反射仪（OTDR）是光纤测量中精度较高的测量方式，不仅可以测量光纤的断点还可以了解因为各种情形导致的光纤衰减。在测量中，我们常常会遇到一种情况那就是“盲区”，在这个盲区里面，我们遇到的光纤实际“情形”无法被看到，也无法被判断。那么这个是否会影响到测量呢？

       首先我们要了解何为“盲区”？盲区是由光纤线路上的反射类型事件引起的(接头或活动连接器等)，当反射的强光进入OTDR后，探测电路会在某一段时间(即一段距离)内处于饱和状态。结果就是在光纤线路上，不能够“看到”反射事件之后的一段光纤或该区域内所发生的事件，所以被称为盲区。

       可见盲区在实际的光纤测量过程中是不可避免的，那么盲区还有哪些分类特征呢？

       衰减盲区是指各自的损耗可以分别被测量时的两反射事件间的最小距离，通常衰减盲区是5~6倍的脉冲宽度(用距离表示)；事件盲区是指两个反射事件仍可分辨的最小距离，此时到每个事件的距离可测，但每个事件各自的损耗不可测。如果用通俗的说法来理解盲区，盲区其实反射事件或者非反射事件导致的对机器的干扰，因为干扰了机器的判断，导致了盲区内的另一个时间不可被测到。

       那么遇到这样的情形，我们该如何减少盲区的存在？首先可以通过多次测量，使用不同的参数来测量，减少失误。另外，还有一种是外在的辅助，比如KomShine的OTDR测试延长线。我们知道，OTDR的盲区主要是由强光反射和脉冲宽度造成，一般会以OTDR为起点向前延续数百米；而OTDR测试延长线一般用在OTDR和被测线路之间，保证OTDR的盲区只会反映在延长线上，而不会对被测链路造成较大影响。